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绝对反射测量系统(紫外分光光度计) [返回]
仪器型号: 绝对反射测量系统
仪器产地: Japan
  

         JASCO日本分光秉承60多年在光谱仪器方面的研究开发经验,研制开发出V-700紫外/可见近红外分光光度计系列产品,广泛应用于社会不同方面,覆盖了从简单的教学应用、常规的日常检测到高端的生命科学实验室的应用。V-700系列由五种型号组成,采用优质的光学元件,测量精确度得到很大的提高,Spectra ManagerTM光谱管理器软件使操作变得轻松,齐全的附件和应用软件为使用者提供了适应于各种分析需求的系统。

●可实现广域波长范围内良好的线性

提高了有实际成果的光学系统。采用超高分辨率的A/D变换器、根据信号处的最适应化可以达到宽广的动态范围。

●支持有信赖性的测量
标配钬玻璃光谱测量,记录的日常检查程序、确保定期校正期间的信赖性。

●IQ附件(自动识别功能)和IQ启动
一旦在样品室安装IQ附件对应配件、可自动读取配件信息,包括配件名、测定条件等。另外,提前登录附件启动程序,安装附件时程序自动启动(IQ启动)。

绝对反射测试:

     自动绝对反射率测量系统是将半导体、薄膜、光学元件、光学元件等各种固体样品的光谱特性和膜厚等与变角测量组合自动化的系统。入射角通过旋转样品来设定,受光角通过转动积分球来控制。同时,根据P偏振光和S偏振光的指定和偏振光子的角度的任意设定,测试样品的偏振特性也是可能的。

 结构示意图:

 测试特点

 

手动

自动

测量模式

绝对反射,相对反射

绝对反射,相对反射,透过率

入射角

绝对反射:0-60°

相对反射:垂直入射

绝对反射:0-60°

相对反射:垂直入射

透射模式:0-60°

 

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