HORIBA Scientific(Jobin Yvon光谱技术)荧光光谱仪可提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种耦联技术的解决方案。HORIBA Scientific从上世纪70年代开始一直专注于TCSPC系统的开发,有四十多年的寿命系统研发和生产经验。寿命测试系统DeltaFlex凭借简单实用的特点,赋予了TCSPC系统新的定义。
DeltaHub——DeltaFlex的核心部件 · 超短的死时间(10ns):配合高重复频率的激光光源和高速检测器,可实现无损失的光子计数,达到快速采集数据和准确的分析结果。 · 超快寿命测试技术:真正实现了荧光寿命动力学测试,采集时间低至1ms,支持1ms-10,000min无间断寿命动态监测。
新型脉冲半导体光源 DeltaFlex配置新型脉冲半导体光源作为荧光和磷光的激发光源(四大类型,百种可选),即插即用,无需校准,免维护。 其中DeltaDiode光源的重复频率可达100MHz,超快寿命测试可选光源,同时可配置用于磷光测定的SpectraLED光源。与氙闪灯相比,SpectraLED具有265-1275nm宽波长的覆盖范围,以及实用方便、测试速度更快和信号无拖尾的优点。
科研级模块化设计 在DeltaFlex系统上无需更换控制器和检测器,即可实现11个数量级(25ps-1s)范围内的荧光寿命测试。系统采用科研级模块化设计,配合F-Link技术,可自动识别各类部件,软件直接接入、附件即插即用,满足升级需求。采用寿命拟合软件,免费开放数十种拟合功能,可独立于仪器操作。 多种光谱仪可选,配合像差校正光栅,覆盖200-1600nm宽光谱范围,实现时间分辨发射谱功能,支持100条发射波长动态连续监测,软件自动获得衰减相关光谱参数。
荧光寿命技术是科研中强有力的工具,可广泛用于物理、化学、材料、信息、生物和医学等领域。 主要特点: · 寿命测试范围<25ps-1s · 测试时间(低至1ms),实现动态反应分析 · 超微量样品测试,低至1μL · 综合分析软件,5指数寿命拟合 · 高稳定性设计,使用维护简单 · 高度自动化,一键测量分析 · 大尺寸样品仓设计,附件兼容好 · 高性能荧光、磷光寿命测试功能
技术参数: · 基于滤光片或单色仪实现波长选择 · 皮秒超快集成化PPD 光子检测模块(标配) · 可升级NIR 检测器(~1700nm) · 综合分析受命拟合软件,开放数十种拟合功能 · 标准液体样品架,加载温度传感器和搅拌装置 · 大尺寸样品仓,配置UV级光学部件 · F-Link 即插即用型交互界面
可选附件: · 手动或电动偏振器 · 自动光学部件 · 红外扩展 PPD 模块 (如PPD-850C 或 PPD-900C) · NIR检测器(~1700nm) · 固体样品支架 · 多种控温装置可选 · 多种光源 |